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產品詳情
  • 產品名稱:冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱

  • 產品型號:
  • 產品廠商:Lab Companion 宏展
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簡單介紹:
TS系列冷熱沖擊試驗箱設備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
詳情介紹:
TS系列冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱
*設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇,充分滿足不同用戶的各種要求;
設備還可提供標準高低溫試驗功能,實現了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容;
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性;
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強,使用壽命長;
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最小;
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命;
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性;
多種可選功能(測試孔、記錄儀、測試電纜等)保證了用戶多種功能和測試的需要;
大面積電熱防霜觀察窗、內藏式照明 –可以提供良好的觀察效果;
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求;
*可根據用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現溫度定值控制和程序控制;
全程數據記錄儀(可選功能)可以實現試驗過程的全程記錄和追溯;
每臺電機均配置過流(過熱)保護/加熱器設置短路保護,確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性;
USB接口、以太網通訊功能,使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要;
采用國際流行的制冷控制模式,可以0%~100%自動調節(jié)壓縮機制冷功率,較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%;
制冷及電控關鍵配件均采用國際知名品牌產品,使設備的整體質量得到了提升和保證;
*設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗A:低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分:試驗方法試驗B:高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分:高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分:低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分:溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
型 號
 
 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
標稱內容積(升) 80 150 200 300
試驗方式 氣動風門切換2溫室或3溫室方式
性能 高溫室 預熱溫度范圍 +60~+200℃
升溫速率※1 +60→+200℃≤20分鐘
低溫室 預冷溫度范圍 -78-0℃
降溫速率※1 +20→-75℃≤80分鐘
試驗室 溫度偏差 ±2℃
溫度范圍 TSL:(+60→+125)℃→(-40--10)℃;
TSU:(+60~+150)℃~(-55~-10)℃;
TSS:(+60~+150)℃~(-65~-10)℃
溫度恢復時間※2 5分鐘以內 www.oven.cc
試樣擱架承載能力 30kg
試樣重量 7.5kg 7.5kg 10kg 10kg
內部尺寸(mm) W 500 600 750 850
H 400 500 500 600
D 400 500 600 800
外形尺寸(mm)※4 W 1460 1560 1710 1880
H 1840 1940 1940 2040
D 1500 1600 1700 1900
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。
※2恢復條件:室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)

 

 
 
TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
標稱內容積(升)
80
150
200
300
試驗方式
氣動風門切換2溫室或3溫室方式
性能
高溫室
預熱溫度范圍
60~+200
升溫速率※1
60→+200℃≤20分鐘
低溫室
預冷溫度范圍
-78-0
降溫速率※1
20→-75℃≤80分鐘
試驗室
溫度偏差
±2
溫度范圍
TSL:(+60+125→(-40--10);
TSU:+60~+150)-55~-10);
TSS:+60~+150)-65~-10)
溫度恢復時間※2
5分鐘以內
試樣擱架承載能力
30kg
試樣重量
7.5kg
7.5kg
10kg
10kg
內部尺寸(mm)
W
500
600
750
850
H
400
500
500
600
D
400
500
600
800
外形尺寸(mm)4
W
1460
1560
1710
1880
H
1840
1940
1940
2040
D
1500
1600
1700
1900
1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。
2恢復條件:室溫為+25℃和循環(huán)水溫為+25℃,試樣是塑料封裝集成電路。(均布)


 冷熱沖擊試驗箱規(guī)格表(Programmable Thermal Shock Tster)

---- 不符合此規(guī)格符合此規(guī)格可配增加此功能可配增加LN2功能
試驗規(guī)范
 駐留溫度()
(exposure temp.)
駐留溫度時間(Min)
(exposure time)
覆歸時間
(recovery time)
 周期
或次數
試驗起
始點
適用機臺型號
TS-(80/150/225/408)
高溫
室溫
低溫
高溫/低溫
室溫
S
U
L
MIL-STD-883E
(Method No.1010.7)
+85
+10
----
-55
0
10min
15min
----
含駐留時間&
轉換時間≦15min
最少
10
低溫或
高溫
Temperature Cycling
(
轉換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做
----
0
+125
+15
----
0
-10
+150
+15
----
0
+150
+15
-65
0
.
----
0
-10
MIL-STD-202F
(Method No.107G)
+83
+3
-25
+10
-55
0
28g以下
15
30 Min
28
136g
30Min
136g
1.36Kg
60Min
1.36
13.6Kg
120Min
13.6~136Kg
240Min
Max.
5 Min
5 Min 以內
5 cycle
25
50
100
低溫
Transfer time
不超過5 min
0
-3
+125
+3
-65
0
----
0
-5
-5
+125
+3
-65
0
----
0
-5
JIS C 0025
IEC 68-2-14
GB 2423.22
+70
+85
+100
+125
±2
±2
±2
±2
室溫
-5
-10
-25
-40
-55
-65
±3
±3
±3
±3
±3
±3
3hr
2hr
1hr
30min
或無定義則
3hr定義
手動轉
移時間
2
3Min
為駐留時間
1/10
5 cycle
除非有
其它規(guī)格
低溫
Auto 
Transfer time
不超過30 sec
小試件
Transfer time
不超過10 sec
----
IPC 2.6.7 +70
±2
----
0
+0
15 Min
----
2 Min 以內
100 cycle
高溫
(
試驗結束
點在高溫)
Transfer time
不超過2 min
-0
-5
+85
+5
-40
+0
-0
-5
+105
+5
-55
+0
-0
-5
+105
+5
-65
+0
----
-0
-5
+105
+5
----
-0
IPC 2.6.6 +85
+3
-25 +10 -55
+0
30 Min
10-15 
Min
5 cycle
-0
-5
+125
+3
-5 -65 +0
----
-0
-5
Bellcore
GR-1221-CORE
+70
±2
----
10min
15min
----
含駐留時間
&
轉換時間≦15min
500 cycle
OR
1000cycle
+80
±2
JESD22
A104-A
+125
+10
-40
+0
15min
含駐留時間
&
轉換時間≦15min
10
可接受;
1000

合格
Temperature
Cycling
(
轉換時間<1min)
實驗過程若中斷
超過總實驗之1/10
次則實驗須重做
-0
-10
+85
+10
-55
+0
-0
+125
+10
-0
-10
+150
+10
-0
+150
+10
-65
+0
----
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