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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
薄膜型太陽能溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)
詳情介紹：
薄膜型太陽能溫循濕冷凍試驗(yàn)機(jī)
【詳細(xì)說明】
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| 薄膜太陽電池可以使用在價(jià)格低廉的玻璃、塑料、陶瓷、石墨，金屬片等不同材料當(dāng)基板來制造，薄膜太陽電池在溫度循環(huán)、濕冷凍、濕熱試驗(yàn)中的量測(cè)及電壓輸入的方式，與晶圓型是不一樣的所以量測(cè)方式也所有不同，是不可以混淆的，薄膜型太陽能電池所依據(jù)的試驗(yàn)規(guī)范為IEC 61646、IEC 61215、UL1703、GB9535、GB18911..等。 形成可產(chǎn)生電壓的薄膜厚度僅需數(shù)μm，因此在同一受光面積之下可較硅晶圓太陽能電池大幅減少原料的用量(厚度可低于硅晶圓太陽能電池90%以上)，目前轉(zhuǎn)換效率最高以可達(dá)13%，薄膜電池太陽電池除了平面之外，也因?yàn)榫哂锌蓳闲钥梢灾谱鞒煞瞧矫鏄?gòu)造其應(yīng)用范圍大，可與建筑物結(jié)合或是變成建筑體的一部份，在薄膜太陽電池制造上，則可使用各式各樣的沈積(deposition)技術(shù)，一層又一層地把p-型或n-型材料長(zhǎng)上去，常見的薄膜太陽電池有非晶硅、CuInSe2 (CIS)、CuInGaSe2 (CIGS)、和CdTe..等。 |
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Thermal cycle test(溫度循環(huán)測(cè)試)
目的：確定組件于溫度重復(fù)變化時(shí),引起的疲勞和其它應(yīng)力的熱失效。 要求： 1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃ 2.整個(gè)測(cè)試過程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器 3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器 4.監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效)。
Humidity-freeze test(濕冷凍測(cè)試)
目的：確定組件承受高溫、高濕之后以及隨后的零下溫度影響的能力。 要求： 1.整個(gè)測(cè)試過程中紀(jì)錄模塊溫度，測(cè)量及紀(jì)錄模塊溫度之儀器準(zhǔn)確度±1℃ 2.整個(gè)測(cè)試過程中，監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊內(nèi)部電連續(xù)性之儀器 3.監(jiān)測(cè)每一個(gè)模塊之一個(gè)隱現(xiàn)端和邊框或支撐架之間絕緣完整性之儀器 4. 監(jiān)測(cè)可能產(chǎn)生之任何開路或接地失效(測(cè)試過程中無間歇開路或接地失效)。
Damp Heat(濕熱測(cè)試)
目的：確定模塊抵抗?jié)駳忾L(zhǎng)期滲透之能力。 |