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上海冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱上海冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱
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TS系列冷熱沖擊試驗箱設備規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性；
冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱 的詳細介紹
TS系列冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱
*設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最小；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品，使設備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
*設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結(jié)構(gòu)設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最小；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品，使設備的整體質(zhì)量得到了提升和保證；
*設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗
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TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W |
TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W |
TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W |
TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W |
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| 標稱內(nèi)容積（升） | 80 | 150 | 200 | 300 | ||||
| 試驗方式 | 氣動風門切換2溫室或3溫室方式 | |||||||
| 性能 | 高溫室 | 預熱溫度范圍 | ＋60～＋200℃ | |||||
| 升溫速率※1 | ＋60→＋200℃≤20分鐘 | |||||||
| 低溫室 | 預冷溫度范圍 | －78－0℃ | ||||||
| 降溫速率※1 | ＋20→－75℃≤80分鐘 | |||||||
| 試驗室 | 溫度偏差 | ±2℃ | ||||||
| 溫度范圍 |
TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃ |
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| 溫度恢復時間※2 | 5分鐘以內(nèi) www.oven.cc | |||||||
| 試樣擱架承載能力 | 30kg | |||||||
| 試樣重量 | 7.5kg | 7.5kg | 10kg | 10kg | ||||
| 內(nèi)部尺寸（mm） | W | 500 | 600 | 750 | 850 | |||
| H | 400 | 500 | 500 | 600 | ||||
| D | 400 | 500 | 600 | 800 | ||||
| 外形尺寸（mm）※4 | W | 1460 | 1560 | 1710 | 1880 | |||
| H | 1840 | 1940 | 1940 | 2040 | ||||
| D | 1500 | 1600 | 1700 | 1900 | ||||
| ※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。 | ||||||||
| ※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布） | ||||||||
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TSL-80-A
TSU-80-W
TSS-80-W
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TSL-150-A
TSU-150-W
TSS-150-W
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TSL-225-W
TSU-225-W
TSS-225-W
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TSL-408-W
TSU-408-W
TSS-408-W
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標稱內(nèi)容積（升）
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80
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150
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200
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300
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試驗方式
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氣動風門切換2溫室或3溫室方式
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性能
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高溫室
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預熱溫度范圍
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＋60～＋200℃
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升溫速率※1
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＋60→＋200℃≤20分鐘
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低溫室
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預冷溫度范圍
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－78－0℃
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降溫速率※1
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＋20→－75℃≤80分鐘
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試驗室
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溫度偏差
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±2℃
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溫度范圍
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TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃;
TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃;
TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
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溫度恢復時間※2
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5分鐘以內(nèi)
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試樣擱架承載能力
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30kg
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試樣重量
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7.5kg
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7.5kg
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10kg
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10kg
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內(nèi)部尺寸（mm）
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W
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500
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600
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750
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850
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H
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400
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500
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500
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600
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D
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400
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500
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600
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800
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外形尺寸（mm）※4
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W
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1460
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1560
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1710
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1880
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H
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1840
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1940
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1940
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2040
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D
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1500
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1600
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1700
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1900
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※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉(zhuǎn)時的性能。
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※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）
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