TS系列冷熱沖擊試驗箱,溫度沖擊試驗箱,高低溫沖擊試驗箱

*設備特點
規(guī)格系列齊全 –提籃式、三廂式、水平移動三種沖擊模式可供用戶選擇，充分滿足不同用戶的各種要求；
設備還可提供標準高低溫試驗功能，實現(xiàn)了溫度沖擊和高低溫試驗的共同兼容；
高強度、高可靠性的結構設計- 確保了設備的高可靠性；
工作室材料為SUS304不銹鋼 - 抗腐蝕、冷熱疲勞功能強，使用壽命長；
高密度聚氨酯發(fā)泡絕熱材料- 確保將熱量散失減到最小；
表面噴塑處理- 保證設備的持久防腐功能和外觀壽命；
高強度耐溫硅橡膠密封條 – 確保了設備大門的高密封性；
多種可選功能（測試孔、記錄儀、測試電纜等）保證了用戶多種功能和測試的需要；
大面積電熱防霜觀察窗、內(nèi)藏式照明 –可以提供良好的觀察效果；
環(huán)保型制冷劑 –確保設備更加符合您的環(huán)境保護要求；
*可根據(jù)用戶要求定制尺寸/定制使用指標/定制各種選配功能
*溫度控制
可實現(xiàn)溫度定值控制和程序控制；
全程數(shù)據(jù)記錄儀（可選功能）可以實現(xiàn)試驗過程的全程記錄和追溯；
每臺電機均配置過流（過熱）保護/加熱器設置短路保護，確保了設備運行期間的風量及加熱的高可靠性；
USB接口、以太網(wǎng)通訊功能，使得設備的通訊和軟件擴展功能滿足客戶的多種需要；
采用國際流行的制冷控制模式，可以0%~100%自動調(diào)節(jié)壓縮機制冷功率，較傳統(tǒng)的加熱平衡控溫模式耗能減少30%；
制冷及電控關鍵配件均采用國際知名品牌產(chǎn)品，使設備的整體質量得到了提升和保證；
*設備滿足以下標準
GB/T 10592 -2008 高低溫試驗箱技術條件
GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗A：低溫
GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法試驗B：高溫
GB/T 5170.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設備檢驗方法 總則
GJB 150.3A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第3部分：高溫試驗
GJB 150.4A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第4部分：低溫試驗
GJB 150.5A-2009 軍用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 第5部分：溫度沖擊試驗
GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法 方法107 溫度沖擊試驗

型 號
				TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W	TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W	TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W	TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W
標稱內(nèi)容積（升）				80	150	200	300
試驗方式				氣動風門切換2溫室或3溫室方式
性能	高溫室	預熱溫度范圍		＋60～＋200℃
		升溫速率※1		＋60→＋200℃≤20分鐘
	低溫室	預冷溫度范圍		－78－0℃
		降溫速率※1		＋20→－75℃≤80分鐘
	試驗室	溫度偏差		±2℃
		溫度范圍		TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		溫度恢復時間※2		5分鐘以內(nèi) www.oven.cc
試樣擱架承載能力				30kg
試樣重量				7.5kg	7.5kg	10kg	10kg
內(nèi)部尺寸（mm）			W	500	600	750	850
			H	400	500	500	600
			D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）※4			W	1460	1560	1710	1880
			H	1840	1940	1940	2040
			D	1500	1600	1700	1900
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。
※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）

 

型號
				TSL-80-A TSU-80-W TSS-80-W	TSL-150-A TSU-150-W TSS-150-W	TSL-225-W TSU-225-W TSS-225-W	TSL-408-W TSU-408-W TSS-408-W
標稱內(nèi)容積（升）				80	150	200	300
試驗方式				氣動風門切換2溫室或3溫室方式
性能	高溫室	預熱溫度范圍		＋60～＋200℃
		升溫速率※1		＋60→＋200℃≤20分鐘
	低溫室	預冷溫度范圍		－78－0℃
		降溫速率※1		＋20→－75℃≤80分鐘
	試驗室	溫度偏差		±2℃
		溫度范圍		TSL:（+60→+125）℃→（-40－-10）℃; TSU:（+60～+150）℃～（-55～-10）℃; TSS:（+60～+150）℃～（-65～-10）℃
		溫度恢復時間※2		5分鐘以內(nèi)
試樣擱架承載能力				30kg
試樣重量				7.5kg	7.5kg	10kg	10kg
內(nèi)部尺寸（mm）			W	500	600	750	850
			H	400	500	500	600
			D	400	500	600	800
外形尺寸（mm）※4			W	1460	1560	1710	1880
			H	1840	1940	1940	2040
			D	1500	1600	1700	1900
※1溫度上升和溫度下降均為各恒溫試驗箱單獨運轉時的性能。
※2恢復條件：室溫為＋25℃和循環(huán)水溫為＋25℃，試樣是塑料封裝集成電路。（均布）